光学関連メタレンズ, イメージング
Penn State大、メタレンズで機械走査不要の並列クロマティック共焦点イメージングを実証一ミリ級深度
Penn State大の研究チームは、色収差を逆手に取り、波長ごとに焦点深度が異なる性質を用いて機械的な軸方向走査なしにミリメートル級の深度を並列取得できるメタレンズ共焦点イメージングを実証した (Nano Letters掲載、軸方向の空間帯域幅積68)。
メタレンズは焦点レンズを平面素子に置き換え、光学系の小型化と半導体プロセスでの量産を可能にする。当社が扱う光計測・光源・分光デバイスにとって、内視・表面プロファイル計測など新たな応用領域を広げる技術動向である。
