光学関連光導波路・CPO
慶應義塾大学と大塚電子、温度変化に強いアサーマル樹脂光導波路を実証一屈折率差の温度依存性を約1桁低減しCPO高密度実装へ
慶應義塾大学の石榑崇明教授らと大塚電子は、光波動場三次元顕微鏡3D-OWFM (MINUK) で樹脂光導波路内部の三次元屈折率分布を非破壊測定し、材料組み合わせの最適化により屈折率差の温度依存性を従来比約1桁低減したと発表した。25℃から75℃まで変化させてもモードフィールド径は4.2mに維持され、成果は11月10~12日のIEEE CPMT Symposium (ICSJ2026) で発表される。
CPOでは光I/Oがパッケージ内の高温環境に置かれるため、温度に対する結合効率の安定性がそのまま実装歩留まりとリンク品質を左右する。アサーマル導波路と非破壊屈折率計測はCPO・光電融合モジュールの実装検査工程に組み込まれる可能性が高く、光計測機器と光ファイバ部品の双方を扱う当社にとって直球の事業領域である。
引用元：オプトロニクスオンライン
