光学関連分光光度計・計測機器
日立ハイテクアナリシス、紫外可視近赤外分光光度計「UH9000シリーズ」を発売一作業工数55%削減
日立ハイテクアナリシスは9月1日、平行ビーム光学系を採用した紫外可視近赤外分光光度計「UH9000シリーズ」を発売した。UH9100は185~3,300nm、UH9200は185~1,800mmに対応し、偏光子ホルダ自動化とマルチスキャン機能で作業工数を約55%、測定時間を約18%削減する。
半導体・先端材料・光学部品の品質管理を主用途に挙げており、光学薄膜や光デバイス材料の評価需要の高まりを反映している。国内の光計測市場に更新需要が立ち上がっていることを示す指標であり、当社の計測機器提案とも重なる領域である。
引用元：PR TIMES
