特長

• シングルダイレベルのPICテストに最適
• 高精度な自動アライメント機能により、迅速かつ安定した測定を実現
• 透過率、反射率、偏波依存損失（PDL）、波長分散など多様な測定に対応
• コンパクト設計で研究開発環境にも適用可能
• EXFOの測定機器とシームレスに統合可能

EXFO社の 光スペクトラムアナライザー、パワーメーター との組み合わせで最適な測定環境を実現

用途

• 光通信向けフォトニック集積回路（PIC）の評価
• シリコンフォトニクスデバイスの特性評価
• 研究開発および小規模生産ラインでのテスト

使用詳細

関連動画

▼ Introducing the OPAL-MD, probe station for multi-die testing