特長

• マルチダイ測定に対応し、生産効率を向上
• 高精度な自動アライメント機能で測定の再現性を確保
• 透過率、反射率、偏波依存損失（PDL）、波長分散などの多様な測定に対応
• 直感的なソフトウェア制御で、操作性とデータ管理を最適化
• EXFOの光測定機器とシームレスに統合可能

EXFO社の 光スペクトラムアナライザー、パワーメーター との組み合わせで最適な測定環境を実現

用途

• 光通信向けフォトニック集積回路（PIC）の量産評価
• シリコンフォトニクスデバイスの研究開発および生産ラインテスト
• 光モジュール・光トランシーバの高精度測定

使用詳細

関連動画

▼ Introducing the OPAL-MD, probe station for multi-die testing