特長
- >90dB ワイドダイナミックレンジ : SSSER >90 dB(typ), STSSER >75 dB(typ) ※CL-bandモデル
- 全波長可変範囲にて>10 dBmの高出力
- 狭線幅 <50 kHz ※CL-bandモデル、チューニングモード
- モードホップフリー制御により信頼性の高い高速掃引(up to 200nm/s)を実現
- CL-bandモデル(1500～1630 nm) / O-bandモデル(1260～1360 nm)
- 小型軽量 217x173x441 mm / 9kg
- 波長チューニングモードと連続掃引モード
用途
- 高速光集積回路(PIC)の検査
- 光学部品検査
- 科学研究開発
仕様詳細
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a. TUNEモード、高精度設定。
b. TUNEモード、高精度設定、低波長から高波長への波長同調用。
c. 1時間以上
d. TUNEモード、線幅の最適化設定時。
e. 0.1 nmの帯域幅で測定。
f. 信号の周囲に±0.6 nmの除外領域を設けて，100 nmのスパンで測定したもの。
g. RBW=30kHzで100MHz～3GHzの範囲におけるRIN。
h. ファイバーの遅軸と偏波をキーコネクターに合わせたもの。
解説・関連動画▼
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