お客様のご要望に応じて、測定したい光集積回路 (PIC：Photonic Integrated Circuit) 毎に最適な構成を都度カスタマイズしてご利用いただけます。

特長

• パッシブ部品、アクティブ部品、量子フォトニクスチップ（ダイ）、AWG、トランシーバー（伝送、BER）
  など幅広い光集積回路を、ウェハーレベル、ダイレベル、コンポーネントレベルでのテスト環境を提供
• 自動化ソフトウェア、プローブシステムから光学/電気/パフォーマンス測定系までワンストップでご提供

用途

• 光集積回路(PIC)の特性テスト(IL、RL、PDL)
• スペクトル分析(波長、光パワー、OSNR等)
• 機能テスト(BERT、アイダイアグラム測定等)

製品仕様

パッシブおよびアクティブコンポーネントテストやBERテスターなど幅広いPICテスト環境をご提供いたします。

＜代表的なPICテストシステムセットアップ＞