広帯域RIN測定システム

波長: 1260 ~ 1625nm

メーカ:SYCATUS株式会社

40GHzまでの広帯域RIN測定システムです。各種波長および周波数領域のRINの測定により、レーザダイオードの雑音・帯域などの諸特性の把握が可能になり、設計・品質の重要な指標を得るとともに、製品の差別化を推進することができます。また、A0020Aレーザ線幅測定システムのベースシステムとして、投資効率の高いシステム運用が可能です。

特長

  • 40GHzまでの広帯域RIN測定
  • 独自の手法による校正方法により、不確かさを低減し、高い測定再現性
  • S~Lバンドだけではなく、850nm、980nm、1064nm等の波長への対応も可能
  • 光変調度測定機能を追加可能

用途

  • センシング / デバイス評価
  • データセンター
  • デバイス評価
  • 光アクセス
  • 光ファイバセンシング
  • 基幹系インフラ
  • 通信

仕様詳細

パラメータモデル最小値中央値最大値
光波長1260 nm1625 nm
周波数測定3 GHz
20 GHz
26.5 GHz
40 GHz
0.0001
0.01
0.1
0.5
3
20
26.5
40
光入力電力 3 GHz
20 GHz
26.5 GHz
40 GHz
10 mW
10 mW
5 mW
5 mW
最小RIN測定可能値
(Input optical 1mW)
3 GHz
20 GHz
26.5 GHz
40 GHz
-160 dB/Hz
-160 dB/Hz
-157 dB/Hz
-157 dB/Hz
入力光変調方式
振幅範囲
OMI
(Optional)
1 mWpp
光変調インデックス精度
(相対誤差, -10 dBm 光入力, 10% OMI)
OMI
(Optional)
5 %15 %

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