特長

• 40GHzまでの広帯域RIN測定
• 独自の手法による校正方法により、不確かさを低減し、高い測定再現性
• S～Lバンドだけではなく、850nm、980nm、1064nm等の波長への対応も可能
• 光変調度測定機能を追加可能

用途

• センシング / デバイス評価
• データセンター
• デバイス評価
• 光アクセス
• 光ファイバセンシング
• 基幹系インフラ
• 通信

仕様詳細

パラメータ	モデル	最小値	中央値	最大値
光波長		1260 nm		1625 nm
周波数測定	3 GHz 20 GHz 26.5 GHz 40 GHz	0.0001 0.01 0.1 0.5		3 20 26.5 40
光入力電力	3 GHz 20 GHz 26.5 GHz 40 GHz			10 mW 10 mW 5 mW 5 mW
最小RIN測定可能値 (Input optical 1mW)	3 GHz 20 GHz 26.5 GHz 40 GHz	-160 dB/Hz -160 dB/Hz -157 dB/Hz -157 dB/Hz
入力光変調方式 振幅範囲	OMI (Optional)			1 mWpp
光変調インデックス精度 (相対誤差, -10 dBm 光入力, 10% OMI)	OMI (Optional)		5 %	15 %