光コンポーネント・テスタ

IL / RL / PDL 測定評価用

メーカ:EXFO

光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用プラットフォームです。チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。

特長

  • 波長範囲:1240-1680 nm
  • ダイナミックレンジ:一回の掃引で70 dB
  • IL解像度:0.0001 dB
  • プラットフォーム毎に最大50の検出器
  • 波長精度:±5 pm
  • サンプリング分解能:1 pm @掃引速度100 nm/s

2021 Lightwave Innovation Reviewを受賞しました。
IL PDL OPM2 New Module in CTP10 Component Testing Platform

用途

光集積回路や多ポートの光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォームです。
チューナブルレーザ(T100S-HP)組み合わせることで、業界でも類のない高性能の掃引IL/RL/PDL測定環境を提供します。

使用詳細

使用イメージ

GUI for swept IL-PDL 測定

Swept-wavelength 測定

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