ビットエラーレートテスター(BERT)

400G / 800G

メーカ:EXFO

800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に最適な、ビットエラーレートテスターです。

特長

  • 800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート (~56GBd, NRZ/PAM4, ~8チャネル)
  • バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能
  • 生成信号の高品質なアイパターン
  • RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用
  • PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQをサポート

用途

  • 光トランシーバ、OSA(Optical Sub Assembly)の試験、評価
  • FPGA、MCB(Module Compliance Board)、HCB(Host Compliance Board)の試験、評価

仕様詳細

FECシミュレーション機能

400GbE/800GbE等のPAM4変調を適用した高速伝送規格では、伝送品質を確保するためにFEC(前方誤り訂正)を使用することが定められており、伝送品質評価においても、FECによるエラー訂正を含めた評価が必要になります。BA-4000のFECシミュレーション機能は、バーストエラーに対する様々な分析機能を提供します。

〇 PRBSエラーチェック及び訂正
〇 Pre-FEC及びpost-FEC BER
〇 KP4/KR4及び低遅延FECプロトコル
〇 FEC lane striping 昨日
〇 FECシンボルエラー分布表示 : codewords vs. シンボルエラー
〇 FECマージン自動計算

O-SMPMコネクタ
測定系構築時の着脱操作が容易に可能、各種高周波コネクタ(K, 2.4mm, SMPM, 1.85mm)に対応したケーブルもサポートしております。

高品質なアイパターン
53GBd PAM4の生成信号においてアイ幅 > 6psと、高品質なアイパターンの生成が可能です。

使いやすいGUI
ユーザーフレンドリーなGUI設計です。詳しくは参考動画①の1分22秒以降もご参照ください。

参考動画①: 特徴のご紹介
参考動画②: FECシミュレーション機能のご紹介

製品に関するお問い合わせ

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