上海で開催される The 6th Asia Pacific Optical Sensors Conference に 弊社の Tuan が「2D single-shot profilometry for scattered media using Supercontinuum source interferometry in visible region」というタイトルで登壇します。

発表日時：10月13日(木) 09:15
発表会場：Haoran High-tech Mansion, 1F ホール 102
セッション： Industrial Structural Monitoring
 
APOS 2016 の プログラム はこちらからご覧いただけます。