400G/800G ビットエラーレートテスター(BERT) – BA-4000

800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に最適な、ビットエラーレートテスターです。

パートナー:
EXFO

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担当者

叶、大久保

アプリケーション

800GbE/400GbE等のPAM4変調方式を用いた高速伝送規格の対応デバイス(光トランシーバ・OSA・FPGA等)の試験・評価に最適な、ビットエラーレートテスターです。

 

 

特徴

〇 800G/400G/200G/100Gの伝送規格向けテストをフルサポート (~56GBd, NRZ/PAM4, ~8チャネル)

〇 バーストエラー分析に必須のFECシミュレーション機能

〇 生成信号の高品質なアイパターン

〇 RFインターフェースに着脱容易なO-SMPMコネクタ採用

〇 PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQをサポート

 

用途

・光トランシーバ、OSA(Optical Sub Assembly)の試験、評価

・FPGA、MCB(Module Compliance Board)、HCB(Host Compliance Board)の試験、評価

 

FECシミュレーション機能

400GbE/800GbE等のPAM4変調を適用した高速伝送規格では、伝送品質を確保するためにFEC(前方誤り訂正)を使用することが定められており、伝送品質評価においても、FECによるエラー訂正を含めた評価が必要になります。BA-4000のFECシミュレーション機能は、バーストエラーに対する様々な分析機能を提供します。

 

〇 PRBSエラーチェック及び訂正
〇 Pre-FEC及びpost-FEC BER
〇 KP4/KR4及び低遅延FECプロトコル
〇 FEC lane striping 昨日
〇 FECシンボルエラー分布表示 : codewords vs. シンボルエラー
〇 FECマージン自動計算

 

 

 

O-SMPMコネクタ

測定系構築時の着脱操作が容易に可能、各種高周波コネクタ(K, 2.4mm, SMPM, 1.85mm)に対応したケーブルもサポートしております。

  

 

高品質なアイパターン

53GBd PAM4の生成信号においてアイ幅 > 6psと、高品質なアイパターンの生成が可能です。

 

 

使いやすいGUI

ユーザーフレンドリーなGUI設計です。詳しくは参考動画①の1分22秒以降もご参照ください。

 

  

 

 

 

参考動画①:特徴のご紹介

 

 

参考動画②:FECシミュレーション機能のご紹介

 

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