光コンポーネント・テスタ

光集積回路や光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用プラットフォームです。チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。

パートナー:
EXFO

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担当者

清水、大久保

アプリケーション

2021 Lightwave Innovation Reviewを受賞しました。

IL PDL OPM2 New Module in CTP10 Component Testing Platform

 

 

光集積回路や多ポートの光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォームです。
チューナブルレーザ(T100S-HP)と組み合わせることで、業界でも類のない高性能の掃引IL/RL/PDL測定環境を提供します。

 

<特徴>

– 波長範囲:1240-1680 nm
– ダイナミックレンジ:一回の掃引で70 dB
– IL解像度:0.0001 dB
– プラットフォーム毎に最大50の検出器
– 波長精度:±5 pm
– サンプリング分解能:1 pm @掃引速度100 nm/s

 

 

GUI for swept IL-PDL 測定

 

Swept-wavelength 測定

 

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