光コンポーネント・テスタ

光パッシブ部品のIL/RL/PDL測定評価用プラットフォームです。チューナブルレーザ(T100S-HP)との組み合わせで高精度の掃引IL/RL/PDL測定を提供、モジュール式の為、自由度の高い測定環境を構成できます。

パートナー:
EXFO

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担当者

清水、大久保

アプリケーション

多ポートの光パッシブ部品を24時間365日テストするためのモジュール式測定プラットフォームです。
チューナブルレーザ(T100S-HP)と組み合わせることで、業界でも類のない高性能の掃引IL/RL/PDL測定環境を提供します。

 

高速掃引でも高い

CTP10は100 nm/sのレーザで使用しても、業界をリードする仕様を維持します。
CTP10は1回のスキャンで100 nm/sでも1-pmのサンプリング分解能で70-dBのダ
イナミックレンジを提供するので、速度と測定精度の間で妥協する必要があ
りません。
CTP10は研究開発環境と製造環境の両分野において、WDMコンポーネントや
WSSの特性評価に理想的な機器です。

 

<特徴>

– 波長範囲:1240-1680 nm
– ダイナミックレンジ:一回の掃引で70 dB
– IL解像度:0.0001 dB
– プラットフォーム毎に最大50の検出器
– 波長精度:±5 pm
– サンプリング分解能:1 pm @掃引速度100 nm/s

 

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