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News お知らせ・新着情報

上海で開催される The 6th Asia Pacific Optical Sensors Conference に 弊社の Tuan が「2D single-shot profilometry for scattered media using Supercontinuum source interferometry in visible region」というタイトルで登壇します。

 

発表日時:10月13日(木) 09:15
発表会場:Haoran High-tech Mansion, 1F ホール 102
セッション: Industrial Structural Monitoring
 
APOS 2016 の プログラム はこちらからご覧いただけます。
 
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